技術紹介

見えない物をいかに撮像するかを追求し、多様な技術をミックスさせ、装置化！

• 『光学×画像処理✕メカトロニクス』＝Wafer検査装置・ACF接合検査装置
• 『AE(音響)×メカトロニクス』＝設備診断関連
• 『総合技術力』＝メカ/ハード/ソフトのベストミックスにより、ユーザーニーズの具現化